この特許は、科学・産業用途における粒子検出の進歩に関わるものです。

特許DE102015101639A1は、測定対象物、特に流れの中の液滴、粒子、またはそれに類する物体に関連付けられた放射の時間分解強度プロファイルを評価する方法を記載しています。本発明は、TSTOF装置における信頼性の高い信号評価に焦点を当て、ノイズを低減または抑制しながら、測定された強度値の有効成分を検出するのに役立ちます。

このアプローチは、光学測定技術、粒子特性評価、スプレー診断、光散乱解析に関連します。時間分解光学信号の評価を改善することで、粒子検出を支援します。

この特許は、スプレー測定、粒子検出、産業プロセスモニタリングのための高度な光学測定システムを支える技術的背景の一部をなしています。従来の信号処理と堅牢な光学診断を結びつけ、TSTOFベースの測定技術のさらなる発展に向けた基盤を提供します。

https://patents.google.com/patent/DE102015101639A1